HR-VIS-NIR-CL 高分辨率光譜儀

產品特點：HR-VIS-NIR-CL 高(gao)分辨率(lv)光(guang)(guang)(guang)譜儀(yi)，采用高(gao)分辨率(lv)光(guang)(guang)(guang)機平(ping)臺(tai)，配置先(xian)進的(de)線(xian)陣探測器，是(shi)一款(kuan)結構緊湊(cou)、攜(xie)帶方便的(de)微型光(guang)(guang)(guang)纖光(guang)(guang)(guang)譜儀(yi)。

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廠商性質：生產廠家

更新時間：2026-01-20

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HR-VIS-NIR-CL 高分辨率光譜儀的詳細資料：

HR-VIS-NIR-CL 高分辨率光譜儀采用高分辨率光機平臺，配置先進的線陣探測器，是一款結構緊湊、攜帶方便的微型光纖光譜儀。

HR-VIS-NIR-CL 高分辨率光譜儀的探測器響應范圍為315-1100nm，用戶可以選擇不同的光柵配置，得到不同的光學分辨率和光譜響應范圍，以滿足不同的應用需求。另外針對其它波段300-750nm/380-900nm/800-1000nm等，可以提供OEM定制。

性能特點：

結構(gou)緊湊，便于攜帶與系統集成
交叉非對稱C-T光路結構，干涉濾光片消二級(ji)衍(yan)射，有效抑制雜散光
315～1100nm寬光譜響(xiang)應均衡(heng)
高(gao)靈(ling)敏響應，實現弱(ruo)光探(tan)測
多種(zhong)狹縫、透鏡、光柵(zha)可選，搭配靈(ling)活
USB通信，即插即用，高速(su)傳輸(shu)
支持(chi)二次(ci)開發，支持(chi)OEM集成

應(ying)用領域：

激(ji)光器(qi)中心波長測量
透射/反射測量
輻射(she)測量(liang)
吸(xi)光度測量(liang)
薄膜測量
顏色測量
熒光測量(liang)
激光光譜測量
太陽(yang)光譜(pu)測量
LIBS光譜測量
生化(hua)、醫(yi)學分析
農業與食品檢測(ce)
水質分析檢(jian)測

探測器	TOSHIBA TCD1304線陣CCD
波長范圍	700nm-1100nm
工作溫(wen)度	5℃ -35℃（推(tui)薦溫(wen)度25℃）
像素	3648像(xiang)(xiang)素，每個像(xiang)(xiang)元8µm ×200 µm
狹縫	5μm
光學分辨(bian)率(lv)	~0.3nm
信噪比	300:1全光譜
線(xian)性度	>99%
雜散光	<0.1% (600nm, 435nm)
A/D	16 bit
積分(fen)時間	4ms - 10s
動態范(fan)圍	300:1
功耗	250 mA, 5 VDC
通(tong)信接口	USB2.0（12Mbps） RS232（115200bps）
外觸發模(mo)式	軟件觸(chu)發，硬(ying)件觸(chu)發，同步(bu)觸(chu)發
光纖接口	SMA905
電源	USB 或 5VDC
尺(chi)寸(cun)	140mm x 110mm x 46mm
儀器重量	0.7 Kg
微軟操作系統	Win XP, Win7,Win8, Win10