固體透射測量

    
                     鹵鎢燈光源                                                                   LED光源                                                              氘-鹵鎢燈光源                

 根據待測樣品的波長敏感范圍選擇合適的光源，鹵鎢燈光源可測光譜范圍360～2500nm；近紅外光源可測光譜范圍800～2500nm；氘-鹵鎢燈光源可測光譜范圍190～2500nm，同時KEWLAB還提供各種單色與白光LED光源供您選擇。

透反射樣品支架

 

 ST-RT該支架包(bao)括可(ke)(ke)調(diao)(diao)滑軌、底座(zuo)、樣(yang)(yang)品(pin)(pin)(pin)臺(tai)以(yi)及兩個準(zhun)(zhun)直(zhi)透(tou)鏡(jing)(jing)，其中上端準(zhun)(zhun)直(zhi)透(tou)射將光(guang)纖出射光(guang)準(zhun)(zhun)直(zhi)輸出到(dao)待(dai)測樣(yang)(yang)品(pin)(pin)(pin)上，下端準(zhun)(zhun)直(zhi)透(tou)鏡(jing)(jing)將透(tou)射樣(yang)(yang)品(pin)(pin)(pin)后的光(guang)收集耦合入光(guang)纖。樣(yang)(yang)品(pin)(pin)(pin)臺(tai)上放置待(dai)測樣(yang)(yang)品(pin)(pin)(pin)。支架側邊有可(ke)(ke)調(diao)(diao)滑軌，根據實際樣(yang)(yang)品(pin)(pin)(pin)尺寸調(diao)(diao)節(jie)光(guang)程(cheng)。

 　　光(guang)譜儀

　　RGB-ER-CL光譜(pu)(pu)儀采用(yong)交叉非對稱C-T光路結(jie)構，配置先進的CMOS探測(ce)器，是(shi)一款結(jie)構緊湊(cou)、攜(xie)帶方便的通用(yong)型微型光纖光譜(pu)(pu)儀，適用(yong)于科(ke)研及工業生產的光譜(pu)(pu)測(ce)量(liang)應(ying)用(yong)，具有高(gao)靈敏度、高(gao)分辨率、高(gao)量(liang)子效率和高(gao)動態范圍的特點。

　　RGB-ER-CL的探測器響(xiang)應(ying)(ying)范(fan)圍(wei)(wei)為200～1000nm，RGB-VIS-NIR-CL的波(bo)長范(fan)圍(wei)(wei)為400～1100nm，用(yong)戶可(ke)以選擇不(bu)同的光(guang)柵配置，得到(dao)不(bu)同的光(guang)學分辨(bian)率和光(guang)譜響(xiang)應(ying)(ying)范(fan)圍(wei)(wei)，以滿足不(bu)同的應(ying)(ying)用(yong)需(xu)求。另(ling)外針對其(qi)它波(bo)段200～900nm/200～1000nm/300～1100nm/700～1100nm，可(ke)以提供定制。

粗糙表面(mian)樣品(pin)透(tou)射測量 

　對于(yu)表面粗糙的(de)樣品，透射(she)(she)測量(liang)時還(huan)需配置(zhi)(zhi)積分(fen)球，系(xi)統搭建如下(xia)圖所示(shi)。擰下(xia)透反射(she)(she)支架下(xia)端的(de)準直(zhi)透鏡，將積分(fen)球置(zhi)(zhi)于(yu)透射(she)(she)孔正下(xia)方，并調節樣品臺面至合適高度(du)。

 積分球
 

                                                                          積分球

 　　積分球ISI-50輻(fu)射型，一個(ge)采樣(yang)端口，一個(ge)測(ce)量(liang)端口。測(ce)量(liang)時，透射樣(yang)品的(de)光(guang)進入采樣(yang)端口，光(guang)纖測(ce)量(liang)端口將光(guang)傳輸至光(guang)譜儀。

　　液體透(tou)射(she)測量　　 

　　液體透射測量系統如下圖所示，與固體透射測量系統的區別就是用四向試管支架替換透反射樣品支架。試管支架的四面均連接一個準直透鏡，兩兩相對。

四項試管支架

                                     四項試管支架

 　CH-4四向試管支(zhi)架(jia)裝置(zhi)是常用的光譜測量(liang)(liang)(liang)取(qu)樣(yang)附件，用于(yu)吸(xi)(xi)收(shou)/透(tou)射測量(liang)(liang)(liang)以及熒光測量(liang)(liang)(liang)。試管支(zhi)架(jia)的四面均(jun)連接一(yi)個(ge)CL-UV準(zhun)直(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)透(tou)鏡(jing)。用于(yu)吸(xi)(xi)收(shou)/透(tou)射測量(liang)(liang)(liang)時，使用兩(liang)個(ge)相對的準(zhun)直(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)透(tou)鏡(jing)；用于(yu)熒光測量(liang)(liang)(liang)時，使用兩(liang)個(ge)互相垂直(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)的準(zhun)直(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)透(tou)鏡(jing)；同時用于(yu)吸(xi)(xi)收(shou)/透(tou)射測量(liang)(liang)(liang)和熒光測量(liang)(liang)(liang)時，使用四個(ge)準(zhun)直(zhi)(zhi)(zhi)(zhi)透(tou)鏡(jing)。

　　常用配置：　 

　　光譜(pu)儀

　　光源

　　樣品支架

　　積分球(qiu)

　　固體透射測(ce)量系統測(ce)量實例(li)

濾波片1的透過率