軍事領域:可以用于研究和開發新型的軍事技術。例如,它可以用于測量和研究激光的光束質量等特性,以提高其攻擊效果和精度。此外,還可以用于研究和開發新型的通信和導航技術等。

1、光譜(pu)分辨率
通常情況下:波長分(fen)辨(bian)(bian)率 < 像素分(fen)辨(bian)(bian)率 < 光(guang)學分(fen)辨(bian)(bian)率
光學(xue)分(fen)辨(bian)(bian)率(lv)表示(shi)系統的物理極限,主要由光柵、準直(zhi)鏡等硬件參(can)數(shu)決定;像素分(fen)辨(bian)(bian)率(lv)?展示(shi)光譜(pu)數(shu)據的理論(lun)采樣(yang)密(mi)度;波長分(fen)辨(bian)(bian)率(lv)則展示(shi)光譜(pu)儀實際測量中的精度表現,通過算(suan)法優化(hua),波長分(fen)辨(bian)(bian)率(lv)可突(tu)破像素分(fen)辨(bian)(bian)率(lv)的限制。
1.1像(xiang)素分辨率
像(xiang)(xiang)素分辨率是由探測(ce)器的(de)(de)像(xiang)(xiang)素數量與光譜儀(yi)的(de)(de)波長范圍共同決(jue)定的(de)(de),公式為:

例如,若光譜范圍為(wei)200-1000 nm,像素數為(wei)2048,則(ze)像素分辨(bian)率(lv) 為(wei)0.390625 nm/pixel。
1.2光學分辨(bian)率
光(guang)學(xue)(xue)分(fen)(fen)辨(bian)率衡量光(guang)譜儀(yi)區分(fen)(fen)相鄰光(guang)譜峰的(de)能力,受(shou)硬件限(xian)制,表現分(fen)(fen)光(guang)系統的(de)物(wu)理(li)極限(xian)分(fen)(fen)辨(bian)能力,通常以(yi)FWHM間(jian)接體現。例(li)如光(guang)學(xue)(xue)分(fen)(fen)辨(bian)率為(wei)1nm的(de)光(guang)譜儀(yi),可清(qing)晰區分(fen)(fen)波長差≥1 nm的(de)兩個(ge)光(guang)譜峰。公式為(wei):

m為(wei)光柵衍射(she)級數,N為(wei)光柵刻線總數
1.3波長分辨率
波(bo)長(chang)(chang)(chang)分(fen)(fen)(fen)辨率(lv)系(xi)統實(shi)際可分(fen)(fen)(fen)辨的(de)最小(xiao)波(bo)長(chang)(chang)(chang)間隔,通常以(yi)算(suan)(suan)法(fa)優化(hua)后的(de)FWHM? 表(biao)示?。波(bo)長(chang)(chang)(chang)分(fen)(fen)(fen)辨率(lv)是(shi)通過算(suan)(suan)法(fa)(如origin擬合(he))計算(suan)(suan)光譜重(zhong)心位置得到(dao)的(de),數(shu)值(zhi)通常為(wei)像素分(fen)(fen)(fen)辨率(lv)的(de)1/10。例如,若像素分(fen)(fen)(fen)辨率(lv)為(wei)0.57 nm,波(bo)長(chang)(chang)(chang)分(fen)(fen)(fen)辨率(lv)可達0.05 nm。
2、分辨率的影(ying)響因素
2.1光學元(yuan)器件
2.1.1光源
2.1.1.1波長特性
在光柵參數(如(ru)刻線(xian)數、狹縫(feng)寬度等(deng))相同的(de)條件下,波長(chang)越長(chang),分辨率越低。這一現(xian)象(xiang)的(de)核心源(yuan)于光柵的(de)色散原理(li)和探測(ce)器的(de)物理(li)限制(zhi)。

光柵的色散原理
當(dang)光柵參數(m、N)固定時,Δλ 與 λ ?成(cheng)正(zheng)比。
探測器(qi)的物理限(xian)制
光(guang)(guang)柵方程(cheng) d(sinθ+sin?)=mλ 表明,波(bo)長(chang)(chang) λ 越長(chang)(chang),衍射角 θ 越大,同一(yi)波(bo)長(chang)(chang)差對(dui)應的(de)色(se)散空間分離越大。例(li)如,紅(hong)(hong)光(guang)(guang)(650 nm)的(de)衍射角大于藍光(guang)(guang)(450 nm),導致紅(hong)(hong)光(guang)(guang)在探測器上的(de)空間分布范圍更廣(guang),每個(ge)像素(su)對(dui)應的(de)波(bo)長(chang)(chang)跨度(du)會隨波(bo)長(chang)(chang)范圍擴(kuo)大而增加,導致相鄰波(bo)長(chang)(chang)信號可能在同一(yi)個(ge)像素(su)上重疊,實際(ji)分辨(bian)率反而降低。短波(bo)長(chang)(chang)(如紫(zi)外光(guang)(guang))因色(se)散角度(du)小(xiao)且探測器像素(su)覆蓋范圍窄,分辨(bian)率更高(gao)。
2.1.1.2穩定(ding)性(xing)
光源(yuan)波動會導致信噪比(bi)下降,影響分辨率精度。
高功率光(guang)源雖然可以增強(qiang)(qiang)信(xin)號,但可能引入熱噪(zao)聲,需要平衡光(guang)強(qiang)(qiang)與噪(zao)聲。
2.1.1.3帶寬(kuan)
窄帶寬(kuan)光源(yuan)(如(ru)激光器)可(ke)減少光譜重疊(die),提升分辨率。
2.1.2狹縫(feng)
越(yue)窄的狹縫(如10 μm)可以(yi)提高分辨率(使(shi)FWHM減小(xiao)),但光通(tong)量會降低,適(shi)用于高分辨率需求。
而寬狹(xia)縫(如200 μm)可以提升靈(ling)敏度(du)但(dan)犧牲分(fen)辨率,適用于弱(ruo)光檢測(ce)。
2.1.3準直鏡(jing)
球(qiu)差、彗差等會使光斑(ban)擴散,從而(er)導致分辨率降低。采(cai)用非球(qiu)面(mian)鏡可以減少球(qiu)差,從而(er)提高分辨率。
若準直效(xiao)果不好,光斑(ban)可能發生散射或偏離(li),也(ye)會導致波長誤差和分辨率下降。
2.1.4光柵
刻(ke)線(xian)密度越(yue)高,色散能(neng)力越(yue)強(qiang),分辨率(lv)通常也(ye)越(yue)高,但光譜(pu)范(fan)圍受(shou)限(xian),需要結(jie)合探測器(qi)有效長度來(lai)選擇。
2.1.5會(hui)聚鏡
會聚鏡的焦長(chang)直接影(ying)響光(guang)譜(pu)儀的色散能力。焦長(chang)越長(chang),光(guang)柵衍射后的不(bu)同(tong)波長(chang)光(guang)線在探測器上(shang)的空間(jian)分布間(jian)隔越寬,從而提(ti)高(gao)了分辨(bian)率,但相應光(guang)損失也會變(bian)大,靈敏度下降。還可(ke)以(yi)采用超環面鏡或消色差透(tou)鏡來(lai)減少色差和球(qiu)差,減少像素間(jian)串擾,從而提(ti)升分辨(bian)率。
2.1.6檢測器
采用小(xiao)像素尺(chi)寸(如5 μm)配合高線數光柵可提升分辨率,但(dan)需兼顧靈敏度(du);
檢測(ce)器的(de)噪聲水平(ping)會(hui)影響測(ce)量的(de)信噪比。可(ke)通過冷卻、屏蔽等方法降低(di)環(huan)境(jing)噪聲的(de)影響,從而提(ti)高(gao)測(ce)量的(de)信噪比,進(jin)而提(ti)高(gao)分(fen)辨率和(he)波長精度。
2.2環境(jing)
2.2.1溫(wen)度
溫(wen)度(du)變化會(hui)引發(fa)光(guang)(guang)柵材(cai)料的(de)熱脹(zhang)冷縮效(xiao)應,導致其刻(ke)線(xian)間距發(fa)生微米(mi)級形變(典型(xing)漂移量約0.01 nm/℃)。這種形變會(hui)直接改變光(guang)(guang)柵的(de)色散特(te)性(xing),表(biao)現(xian)為波長定位(wei)誤差和光(guang)(guang)譜分(fen)辨率下(xia)降。同時溫(wen)度(du)改變還(huan)可能影響光(guang)(guang)源穩(wen)定性(xing)(如(ru)氘燈、鎢(wu)燈等(deng)光(guang)(guang)源的(de)輸(shu)出功(gong)率與溫(wen)度(du)呈負相關)和檢(jian)測器(qi)噪聲(sheng)(高溫(wen)下(xia)暗電(dian)流增加)。
2.2.2濕度
高濕度環境可能導致光學元件表面結露或吸附水分,從而影響光的傳播和反射,進而降低光學儀器的分辨率和波長精度。同時,濕度還可能增加噪聲和干擾,從而影響儀器的穩定性和準確性。
當某(mou)種(zhong)物質(zhi)經(jing)某(mou)種(zhong)波(bo)長的(de)(de)(de)入(ru)射光(通常(chang)是(shi)紫外線或 X 射線)照射,吸(xi)收光后進入(ru)激(ji)(ji)發(fa)(fa)態(tai),并(bing)且立即激(ji)(ji)發(fa)(fa)并(bing)發(fa)(fa)出(chu)比入(ru)射光的(de)(de)(de)波(bo)長更長的(de)(de)(de)出(chu)射光(通常(chang)在(zai)可見光波(bo)段),這種(zhong)光被稱為(wei)熒光。物質(zhi)熒光的(de)(de)(de)產生(sheng)是(shi)由在(zai)通常(chang)狀況下處(chu)于基態(tai)的(de)(de)(de)物質(zhi)分子吸(xi)收激(ji)(ji)發(fa)(fa)光后變為(wei)激(ji)(ji)發(fa)(fa)態(tai),這些處(chu)于激(ji)(ji)發(fa)(fa)態(tai)的(de)(de)(de)分子是(shi)不穩定的(de)(de)(de),在(zai)返回基態(tai)的(de)(de)(de)過程中將一部分的(de)(de)(de)能量以光的(de)(de)(de)形式(shi)放出(chu),從(cong)而(er)產生(sheng)熒光。
不(bu)同物(wu)(wu)(wu)質(zhi)由于分(fen)(fen)子結構不(bu)同,其激發(fa)態(tai)能(neng)級的(de)分(fen)(fen)布具有(you)各自不(bu)同的(de)特(te)征(zheng),這種特(te)征(zheng)反映在熒(ying)(ying)(ying)光(guang)(guang)上表現(xian)為各種物(wu)(wu)(wu)質(zhi)都有(you)其特(te)征(zheng)熒(ying)(ying)(ying)光(guang)(guang)激發(fa)和發(fa)射光(guang)(guang)譜(pu),因此可以用熒(ying)(ying)(ying)光(guang)(guang)激發(fa)和發(fa)射光(guang)(guang)譜(pu)的(de)不(bu)同來定性地(di)進行物(wu)(wu)(wu)質(zhi)的(de)鑒定。在溶液中,當熒(ying)(ying)(ying)光(guang)(guang)物(wu)(wu)(wu)質(zhi)的(de)濃(nong)度較低時,其熒(ying)(ying)(ying)光(guang)(guang)強度與該物(wu)(wu)(wu)質(zhi)的(de)濃(nong)度通常有(you)良(liang)好(hao)的(de)正比關系,即IF=KC,可進行熒(ying)(ying)(ying)光(guang)(guang)物(wu)(wu)(wu)質(zhi)的(de)定量分(fen)(fen)析。
測(ce)量熒(ying)光測(ce)試樣品時,樣品池中設計了專門(men)用(yong)于放置熒(ying)光濾光片的插槽,客戶(hu)可(ke)依據(ju)測(ce)量物質選(xuan)擇激發光源和熒(ying)光濾光片,可(ke)采用(yong)激光也可(ke)采用(yong)專用(yong)熒(ying)光LED光源或汞燈,而(er)通常濾光片的截止度到 OD3 已能滿足大部分(fen)需求。

圖 1 用樣(yang)品池進行熒光測量示意圖
對于(yu)能夠直(zhi)接(jie)發出熒光的物(wu)質(zhi),可以通過測量(liang)其熒光強度來進(jin)行(xing)定量(liang)分析。