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BA8205I半微量天平的詳細產品資料
點擊次數：3259 時間：2025-07-01
BA8205I半微量天平的詳細產品資料：
半微量天平是一種用于測量小量物質質量的儀器。它具有高靈敏度和高精度，能夠測量微克級別的物質質量。半微量天平廣泛用于化學、生物、醫學、環境等領域的研究和實驗中。
BA8205I系列半微量天平是簡單、高效(xiao)和準確稱(cheng)重測量的理想選擇。 BA8205I 系列半微量天平采用先進的稱重技術，具有操作速度快、重復性好和精度高等優點。雙量程功能、多語言選項和多種配件提供了滿足不同需求的靈活性。LCD大屏顯示和直觀的交互界面保證了流暢的用戶體驗。
產品特(te)點：
強勁性能(neng)
- 電磁力補(bu)償稱重系統確保稱重速(su)度和重復性
- 高(gao)度集(ji)成式稱重(zhong)傳感器確保準確的的結(jie)果(guo)
- 配備完整的防風玻璃罩，帶3個滑動門，以保護樣品和大限度減少擾動
- 雙量程天平可用于測(ce)量各種各樣的樣品(pin)
先進(jin)的(de)數據管(guan)理
- 包含一個可存儲多達99配方的數據庫，每個配方可包含多達20種不同成分
- 稱量數據按照GLP/ISO格式保存，包含重量、時間和序列號等
- 多種配件可選(xuan)，如數(shu)據線和打印機(ji)用來更(geng)高效(xiao)地數(shu)據傳輸(shu)
用戶友好的設計(ji)
- 大屏LCD顯示，指示清晰，操作直觀
- 支(zhi)持多種語(yu)言(yan)：英語(yu)、德語(yu)、法語(yu)、意大利語(yu)、西(xi)班牙語(yu)和葡萄牙語(yu)
- 按(an)鍵有保護蓋便于清潔
規格參數：
| 型號 | BA8205I |
| 量程 | 82/220 g |
| 小稱量 | 0.06/0.6 mg |
| 重(zhong)復性(xing) | 0.05/0.1 mg |
| 線(xian)性(xing) | ±0.1/±0.2 mg |
| 可讀性 | 0.01/0.1 mg |
| 穩(wen)定(ding)時間 | ≤ 6 s |
| 顯示(shi)方式 | LCD顯示 (綠(lv)底黑(hei)體) |
| 使用溫度范(fan)圍 | 5-25 ºC |
| 校準(zhun)方式 | 自動內部校準（也可(ke)外部校準） |
| 配件 | RS232C 接口（標(biao)配） |
| 秤盤直徑 | Φ80 mm |
| 防風罩尺寸 | 162 × 171 × 225 mm |
| 外形尺寸 | 345 × 215 × 345 mm |
| 凈(jing)重 | 7 kg |
半微量天平的工作原理基于電磁力平衡。當天平的托盤上放置樣品時，樣品受到重力的作用并施加在托盤上。天平通過電磁力調節補償電流來抵消樣品的重力作用，從而達到平衡。通過測量補償電流的大小來計算樣品的質量。通常，半微量天平的最小可測質量為幾微克。
半(ban)微量(liang)天平(ping)根據其適用范(fan)圍(wei)和(he)不同(tong)應用領域可(ke)以分為幾種(zhong)類(lei)型。常見的幾種(zhong)半(ban)微量(liang)天平(ping)包括(kuo)分析天平(ping)、高(gao)分辨率天平(ping)、超微量(liang)天平(ping)和(he)微量(liang)天平(ping)。
分(fen)析(xi)(xi)(xi)天(tian)(tian)(tian)平(ping)和高(gao)分(fen)辨(bian)(bian)率天(tian)(tian)(tian)平(ping)是兩種精度較高(gao)的(de)半微(wei)量(liang)天(tian)(tian)(tian)平(ping)。分(fen)析(xi)(xi)(xi)天(tian)(tian)(tian)平(ping)通常用于測量(liang)化學(xue)(xue)反應(ying)過程(cheng)中的(de)微(wei)觀質量(liang)變化或(huo)生(sheng)物學(xue)(xue)分(fen)析(xi)(xi)(xi)。高(gao)分(fen)辨(bian)(bian)率天(tian)(tian)(tian)平(ping)可以測量(liang)更小的(de)重量(liang)變化，廣泛(fan)應(ying)用于精細化學(xue)(xue)分(fen)析(xi)(xi)(xi)、微(wei)生(sheng)物學(xue)(xue)、醫學(xue)(xue)和環境監測等領域(yu)。
超微(wei)(wei)量天平是一種精(jing)度更(geng)高的(de)半微(wei)(wei)量天平。它能夠測量微(wei)(wei)量物質(zhi)的(de)體(ti)積、密度、流動性等(deng)性質(zhi)，并可用于(yu)分析(xi)質(zhi)子(zi)(zi)、中子(zi)(zi)等(deng)微(wei)(wei)粒子(zi)(zi)的(de)質(zhi)量。超微(wei)(wei)量天平廣(guang)泛應用于(yu)物理、化(hua)學、生(sheng)物等(deng)領域的(de)研究(jiu)和實(shi)驗中。
微(wei)量天平是一種功能(neng)簡單、結構緊湊的(de)半微(wei)量天平。它通常用(yong)于教學實驗(yan)或(huo)生產中的(de)簡單測量。微(wei)量天平具有經濟(ji)實惠(hui)和易于操作的(de)特點，廣(guang)泛應用(yong)于學校、實驗(yan)室(shi)和工廠(chang)等(deng)場合。
在使用(yong)半微量天(tian)平(ping)時，需要特別注意其精度和靈敏度。在操(cao)作(zuo)時應(ying)防(fang)止天(tian)平(ping)受到(dao)物理(li)或化(hua)學的損害，例如震動、溫度變化(hua)或化(hua)學腐蝕等。此外，應(ying)定期校準半微量天(tian)平(ping)，以(yi)確保(bao)測量的準確性(xing)和可靠(kao)性(xing)。
總之，半微量天平是(shi)化學、生物(wu)、醫學、環境等領域中*儀器之一。它(ta)的高(gao)靈敏度(du)和(he)高(gao)精度(du)為研究人員(yuan)提供了準(zhun)確的實驗數(shu)據，有助于(yu)促進科學研究和(he)發展。
